設備名稱: 二坐標測量機 設備型號: sph2010(全新) 產地: AEH 年代: 新 技術狀況: 新 數量: 大量 售價: 議 測量范圍(mm)X: 200 測量范圍(mm)Y: 100 測量范圍(mm)Z: 探測系統: 英國RENISHAW系統 分辨率: 0.5μm 示值誤差(μm): 1.5+L/100 探測誤差(μm): 技術特點：: 1.花崗巖基座及立柱為主機的機械系統提供了超高的穩 定性 2.先進的精密光柵測量系統結合計算機輔助誤差修正軟 件保證儀器的高精度 3.計算機可編程控制光學照明系統 4.先進的圖像處理及多樣化的自動尋邊采點功能取代 了目視瞄準手工技術的傳統測量方式，極大的提 高了工作效率并從根本上消除了人為誤差 5.圖形化的中文操作界面更易于操作者學習掌握 6.編程及自學習編程功能令同一工件（或同類工件）的批 量（或重復）測量更為輕松。 7.功能強大的通用測量軟件可與多種專用軟件（包括統計 與質量控制、曲線、齒輪、螺紋等）配合使用以解決普 通的測量問題和各種特殊的測量解決問題。