產品名稱:DAGE達格 xray檢測機
產品型號:XD6500
產地:英國
英國DAGE公司X光測試儀設計滿足PCB和半導體工業的增長需求,用戶可以輕松獲取高質量、高放大倍數和高分辨率下的被測物任何方位的圖像。由于采用開管(Open Tube)技術,在放大倍數方面遠遠超過了采用閉管(Closed Tube)技術的X光檢測儀達到亞微米級,能滿足客戶更高精度的需求。
DAGE
XL6500 X-RAY檢測設備是專為電子行業提供高端解決方案而設計的,適用于PCBA裝配工藝中的各種焊接缺陷及半導體封裝缺陷的檢測。如BGA、CSP、flip
chip、COB、QFN、QFP以及PTH插件質量的檢測,DAGE XL6500均可提供高清晰的光學圖像。采用旋轉載物臺,可供多種不同尺寸的產品進行多角度檢測,使檢測更加全面可靠。除對PCBA分析外,還可以擴展到PCBA行業以外的其他領域,如太陽能、陶瓷片、電池、探針等。
美國DAGE XL6500檢測儀規格
|
尺寸(長x寬x高)
|
1450 x 1700 x 1970mm
|
|
重量
|
1900 KG
|
|
小聚集光點
|
1micron
|
|
X光管
|
開放管
|
|
X射線管電壓范圍
|
30-160 KV
|
|
檢測面積
|
458MM x 407MM
|
|
板尺寸
|
508MM x 444MM
|
|
樣本重量
|
5 KG
|
|
電源
|
單相200-230V/16A
|
|
斜角視圖
|
0-70°(360°全方位檢測)
|
|
系統(幾何)放大倍率
|
1065x
|
|
輻射安全標準
|
1uSv/Hr(符合歐美標準)
|