一、概述
本儀器是磁性、渦流一體的便攜式覆層測厚儀，能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。
儀器符合以下標準：
GB/T 4956-1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法
GB/T 4957-1985 非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量 渦流方法
JB/T 8393-1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀
JJG 889-95 《磁阻法測厚儀》
JJG 818-93 《電渦流式測厚儀》
二、技術參數
技術參數表：
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測頭類型
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F
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N
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工作原理
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磁感應
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渦流
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測量范圍（μm）
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0~1250
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0~1250銅上鍍鉻（0~40）
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低分辨率（μm）
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0.1
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0.1
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示值
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一點校準（μm）
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±（3%H+1）
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±（3%H+1.5）
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二點校準（μm）
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±[（1~3）%H+1]
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±[（1~3）%H+1.5]
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測試條件
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最小曲率半徑（mm）
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凸1.5
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凸3
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最小面積的直徑（mm）
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φ7
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φ5
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基體臨界厚度（mm）
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0.5
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0.3
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測頭選用參考表
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基體覆蓋層
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有機材料等非磁性覆蓋層（如：漆料、涂漆、搪瓷、塑料和陽極化處理）
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非磁性的有色金屬覆蓋層（如：鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等）
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如鐵、鋼等磁性金屬
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F型測頭
測量范圍：0μm~1250μ
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F型測頭
測量范圍：0μm~1250μ
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如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬
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N型探頭
測量范圍：0μm~1250μm
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N型測頭 僅用于銅上鍍鉻測量范圍：0μm~40μm
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