德國Mahr 馬爾 MarSurf CM explorer 是緊湊型 共聚焦共焦 顯微鏡
靈活的測量解決方案
MarSurf CM explorer 是緊湊型 共聚焦共焦 顯微鏡，用于對表面進行準(zhǔn)確的三維測量和分析 - 非接觸，與材料無關(guān)，而且速度快.
靈活的測量解決方案
MarSurf CM explorer 有堅固的結(jié)構(gòu)且對環(huán)境波動不敏感，所以適合測試實驗室和生產(chǎn)環(huán)境中的質(zhì)量保證測量。
典型測量任務(wù)
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粗糙度測量符合
ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178
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表面特征輪廓測量（包括體積、磨損、摩擦學(xué)）
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輪廓和形狀 (2D, 3D)
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孔，顆粒分析
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缺陷檢測
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數(shù)據(jù)質(zhì)量
我們最重要的標(biāo)準(zhǔn)之一，即優(yōu)異的精度、準(zhǔn)確性、可重復(fù)性、可再現(xiàn)性和文檔記錄，可保證可追溯性和可審核性。我們?yōu)榭蛻籼峁┑姆?wù)就是提供能夠可靠地用于工程、產(chǎn)品、工藝設(shè)計和質(zhì)量控制領(lǐng)域的定量測量值等。
MarSurf CM explorer
0分辨率可達 2 (nm) 垂直測量速度 100fps工件 重量 (kg)10 kg測量原理
語言德語 , 英語 , 法語 , 意大利語 , 西班牙語 , 葡萄牙語 , 波蘭語 , 俄語 , 土耳其語 , 中文 , 日語 , 韓語其他xyz 方向碰撞檢測電源100 - 240 V表面參數(shù)ISO 4287, ISO 13565, ISO 25178, …
我們產(chǎn)品的各種應(yīng)用
機械工程
鑒定和量化粗糙度、幾何形狀和磨損量
電子和半導(dǎo)體
亞微米級的組件檢測，確保產(chǎn)品無缺陷
醫(yī)療技術(shù)
生產(chǎn)和實驗室中醫(yī)療表面的質(zhì)量保證
材料科學(xué)
新表面和產(chǎn)品的功能屬性的優(yōu)化
微系統(tǒng)技術(shù)
以納米級精度測量最小組件的復(fù)雜表面幾何形狀