工業顯微鏡系統可進行從 VIS 到 SWIR 的多光譜成像

這種工業顯微鏡裝置可進行從可見光（VIS）到近紅外光（NIR）再到短波紅外光（SWIR）范圍的多光譜成像，可以對具有不同光譜指紋的樣品進行分離或分類。它建立在堅實的LINOS® X 95 系統底座上，利用固態激光器可靠的 LED 為樣品進行多色照明。Optem® SWIR 顯微鏡地捕獲樣品圖像，然后由 pco.pixelfly? 1.3 SWIR 相機采集。該相機對從 VIS 至 SWIR 光譜范圍（400 nm 至 1700 nm）均敏感。專門開發的 PCO 軟件有助于多色圖像的記錄、制備和多成分分析。該分析可分離或分類測量樣品。這些樣本涵蓋了廣泛的應用，包括食品包裝控制和廢物分類。